详细信息与指标

功能/应用范围：固体材料表面结构的分析，可以实现如下功能, 1)接触式AFM测量形貌 2)动态敲击力AFM测量形貌 3)真正的非接触模式的AFM测量形貌 4)横向摩擦力测量 5)力曲线测量 6)相位成像测量

主要附件：辅助成像系统

主要技术指标：1. 与Z独立的50µmXY平板扫描器单独带动样品做横向扫描(50µm in low voltage mode)<0.15nm resolution(<0.02nm in low voltage mode) 2 无Bow效应,在原始数据上就可以准确测量三维纳米结构,无需软件Flatten处理 3. 用真正的非接触模式AFM测量样品形貌,对样品无压力和敲打 4. 采用XY闭环扫描技术,消除压电陶瓷的非线性,爬行,滞后等缺陷，任意扫描角度扫描准确地得到X，Y尺寸,无畸变,XY精度和线性误差<0.2% 5. 图象分辨率达到4096x4096像素 6. 独立的Z扫描器带动针尖做垂直扫描,垂直测量范围>8um 7. 提供数据采集软件XEI image processing, analysis, and presentation software图像分析处理软件 8. 高性能光学显微放大(500x)及辅助成像系统,用于观察针尖样品相对位置 9 样品大小>80x80x20mm

技术特色：真正的非接触模式的AFM测量形貌

服务实例：无

仪器的服务信息

每年可供对外服务（机时）：无

上年对外服务（机时）：无

接待时间（工作日）：周二、五

收费标准（元/样品）：200

每小时占用费用（元）：无

仪器联系人：吴叶华

联系电话： 55273011

传真：无

电子邮箱：yhwu@usst.edu.cn